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  1. 同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器完成整机装配

    源一次离子束斑直径3μm;质量分辨率在质荷比=122时,达到14000。 2、完成飞秒后电离和激光诱导发射光电子后电离技术的参数优化。对金属靶材Ag,Cu和Pb等测试结果表明,采用飞秒激光后电离技术,可使相应的金属离子信号增强 100-500倍。 3、为高分辨单次反射质量分析器引入脉......

    https://www.cgs.gov.cn/gzdt/zsdw/201603/t20160309_304110.html    发布时间:2016.01.22 16:30:59
  2. 同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器研发新进展

    并检测到二次离子信号。 任务一现场展示TOF-SIMS-REE仪器的总装配工作情况任务二现场演示一次离子源和离子光学系统的性能   3.完成多种靶材的纳秒激光溅射产物的飞秒后电离实验。在优化条件下飞秒后电离技术可使测试信号提高数十倍。 任务三汇报飞秒激光后电离系统的研发和测试情......

    https://www.cgs.gov.cn/xwl/cgkx/201603/t20160309_297937.html    发布时间:2015.02.03 11:21:47