49.00万元，包含所有税费。 　　四、技术要求： 　　该设备主要用来材料表面微观形貌分析、粗糙度计算、颗粒大小分析、高度与宽度分析、横截面分析和三维成像功能；用于测试不同基底样品表面微观粗糙度和各种薄膜样品表面的粗糙度及表面微结构情况。设备配备控制系统与大范围扫描测量......

于0.1 nV/√Hz； 　　3）*调谐范围：单调谐单元为6 到 30 µF可调，双调谐单元可调至60 µF； 　　4）*Tx & Rx1 线圈：100m,10mm²横截面积电缆 　　采购合同签订后120个工作日内交货并完成安装调试 　　中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所 　　到货验收合格后1年 　　......