中国地质科学院国家地质实验测试中心举办X射线谱学与图像技术学术报告会

   为了更好了解当前X射线谱学与图像技术发展趋势与应用情况，近日，国家地质实验测试中心组织举办了“X射线谱学与图像技术学术报告会”。中科院高能物理研究所魏龙研究员、帕纳科荷兰总部 Mr. Christos Tsouris博士，以及测试中心詹秀春研究员、沈亚婷副研究员分别做了《CT技术用于科学研究》、《SumXcore technology - improved analysis of geological Materials》、《基于XANES研究SOM对短期Pb暴露的拟南芥中Pb形态变化的影响》、《X射线荧光现场分析应用进展》学术报告。

   会上，魏龙研究员就CT的分类、工作对象、研制关键技术、研究现状及其在LED显微成像、激光二极管显微成像、材料裂纹检测方面的应用进行了详细介绍。Mr. Christos Tsouris博士的报告分为两部分内容：一是SumXcore 关键优势和地学应用的介绍；二是关于新型多功能XRF,XRD,XCT集成仪器研制的介绍。詹秀春研究员针对X射线荧光现场分析应用的现状和研究进展进行了详尽介绍。沈亚婷副研究员主要介绍了基于XANES研究的溶解性有机质对拟南芥中Pb形态转化的影响，以及植物细胞中伴随中毒解毒反应的一系列Pb形态变化。

   学术交流期间，中心参会人员还就研究仪器设备、实验方法及X荧光等仪器在地学和环境生物方面的应用发展方向等问题与四位专家进行了深入的探讨和交流。