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自主研发波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪亮相国际展览

来源:地调局实验测试中心 作者:邓赛文 发布时间:2017-03-20

2017年3月5~9日,第68届匹兹堡国际实验室仪器展览会在美国芝加哥展览中心举行。地调局实验测试中心、北京钢研纳克检测技术有限公司、地调局南京地调中心等共同自主研发的 CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪惊艳亮相,受到众多专家学者的关注。

该仪器集波谱、能谱、微X射线分析于一身,集成了波谱和能谱的优点,扩展了X射线荧光光谱仪的分析领域,搭建了从厘米级总体分析到毫米级分布分析的桥梁。许多参加展会的客商,对CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪表示了极大的兴趣,并现场进行了详细咨询。通过这次参展,不仅了解到了仪器行业的最新行情,开拓了国际视野,为今后的仪器研发工作带来了新的理念,更有助于该项成果的市场化。

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